Angebot: Analysesystem „EQS FIB-SIMS“, das die Techniken der Sekundärionen-Massenspektrometrie (SIMS) mit dem fokussierten Ionenstrahl (FIB) kombiniert und eine genaue Charakterisierung der obersten Nanoschichten verschiedener Materialien ermöglicht. Mit einer lateralen Auflösung von <50 nm für die Oberflächenabbildung und <20 nm für die Tiefenauflösung bietet das System eine unvergleichliche Präzision.