Großformat Laser-Beam-Profiler mit GigE-Schnittstelle
Merkmale: Basis des Geräts bilden hochauflösende Global-Shutter-CMOS-Sensoren. Verfügbar ist ein 20-MP-Sensor mit einer aktiven Fläche von 32,8 mm × 24,6 mm und ein 50-MP-Sensor mit 36,4 mm × 27,6 mm aktiver Fläche. Der nutzbare Spektralbereich liegt zwischen 350 nm und 1100 nm. Die Sensorarchitektur in Verbindung mit einer modernen GigE-Schnittstelle (PoE) erlaubt hohe Bildraten bei voller Auflösung.
Die Strahlanalyse-Software „RayCi“ verarbeitet die Bilddaten und bestimmt die Laserstrahlparameter nach gültigen ISO-Standards. Die Software garantiert höchste Genauigkeit und wird den heutigen Anforderungen nach Strahlanalyse im vollsten Umfang gerecht. Zudem besteht die Möglichkeit, einzelne oder mehrere Beam Profiler plattformunabhängig über die vorhandene XML-RPC-Schnittstelle in Steuerungs- bzw. Produktionsapplikationen zu integrieren. Die Software kann beispielsweise über LabVIEW-Anwendungen, Skripte oder Excel gesteuert werden. Zudem stehen DLLs für unterschiedliche Programmiersprachen zur Verfügung.
Anwendungen: Der Beam-Profiler ist in allen Bereichen in Industrie, Forschung und Entwicklung einzusetzen. Mit einer zusätzlichen Kalibrierung der winkelabhängigen Empfindlichkeit können auch stark divergente Strahlquellen wie VCSEL oder Laserdioden präzise analysiert werden.
